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蔡司通过光学CMM检测提供更大的灵活性

现在,使用ZEISS O-INSPECT多传感器坐标测量机,可以比以往更快地检查敏感,反射或低对比度表面。新型蔡司DotScan色共聚白光传感器将于9月10日至15日在芝加哥举行的IMTS(国际制造技术展)O-INSPECT CMM展位上展出,展位号为E-135502。

使用这种新的色共焦白光传感器,操作员现在可以在扫描时选择调节和非调节模式。这意味着,使用蔡司DotScan,由于制造过程的变化,也可以捕获尺寸超过测量范围的元件。通过规范扫描,蔡司DotScan可以自动主动与测量范围的中心对齐,使其能够捕获所有组件的表面点。

操作员可以通过ZEISS O-INSPECT上的第4轴旋转工作台超越触觉传感器应用,现在可以使用ZEISS DotScan进行非接触式扫描,从而实现最佳效果。传感器的测量速度取决于几个因素,范围从每秒100到150毫米。

蔡司DotScan传感器可根据需要进行换入和换出,从而节省大量时间并提高灵活性。该传感器有三种尺寸可供选择,适用于不同的测量范围:一,三和十毫米。从2018年11月开始,所有新的蔡司O-INSPECT多传感器测量机系统都将标配一个使用新传感器的接口。


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